AmE 2010 - Automotive meets Electronics   

Programm 

Sie können das Programm auch als PDF herunterladen. 

 

Donnerstag, 15. April 2010

08:00 Registrierung

09:00 Eröffnung
M. Wahl, Universität Siegen

 

Session 1 - Perspektiven
Session Chair: M. Wahl, Universität Siegen

09:10 Keynote
Herausforderungen durch komplexe, vernetzte Systeme

T. Form, Volkswagen AG, Wolfsburg

09:50 Keynote
Sicherheit für Alle - Skalierbarkeit und Preiswertigkeit als Erfolgsfaktoren für ein durchgängiges Sicherheitskonzept

P. Rieth, Continental AG, Frankfurt/Main

10:30 Kaffeepause

 

Session 2 - Bordnetz
Session Chair: R. Montino, Elmos Central IT Services GmbH & Co. KG, Dortmund

10:50  Echtheitsanalyse Ethernet-basierter E/E-Architekturen im Automobil
F. Reimann, C. Haubelt, J. Teich, Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg;´
A. Kern, T. Streichert, Daimler AG, Böblingen

11:15 Selektiver Teilnetzbetrieb im Fahrzeug: Eine Realisierung für den CAN-Bus und Adaption auf andere Bussysteme
M. Fuchs, P. Scheer, BMW Group;
A. Grzemba, HS Deggendorf

11:40 Requirements for a Standardized Sensor Bus for Automotive Applications
H. Völkel, M. Wahl, R. Brück, Universität Siegen;
P. Scheer, BMW Group, München

12:05 Mittagspause

 

Session 3 – EMV
Session Chair: H.-T. Mammen, Hella KGaA Hueck & Co, Lippstadt

13:00  Electomagnetic Compatibility (EMC) of CAN+
T. Ziermann, J. Teich, Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg

13:25 Automatisierte EMV-Prüfung des Schlüssel-funkempfängers eines Lenksäulenmodells
P. Mennes, EMC Test NRW GmbH, Dortmund;
M. Wiegand, Leopold Kostal GmbH & Co. KG, Lüdenscheid

13:50 Leiterplatten-EMV-Filter
S. Tenbohlen, F. Streibl, Universität Stuttgart;
C. Spratler, J. Hartmann, Robert Bosch GmbH, Stuttgart

 

Kaffee & Postersession 1
Session Chair: J. Pfeiffer, Freescale Halbleiter Deutschland GmbH, München

14:15 Beginn Postersession 1

Über den Einsatz von hochintergrierten Magnetfeldsensoren im Antriebsstrang
N. Kolbe, M. Prochaska, NXP Semiconductors, Hamburg

Mobile and Fast Detection of Visual Field Defects for Elderly Drivers as a Necessary Input into Driver Assistance Systems for Mobility Maintenance
E. Tafaj, C. Uebber, M. Bogdan, W. Rosenstiel, Wilhelm-Schickard-Institute of Computer Science, Eberhard Karls Universität Tübingen;
J. Dietzsch, U. Schifer, Institute for Ophthalmic Research, Eberhard Karls Universität, Tübingen

FlexRay mit passiver optischer Stern-Topologie
M. Bloos, S. Hittmeyer, H. Poisel, Georg-Simon-Ohm-Hochschule Nürnberg

Entwärmungskonzept für LED-Baugruppen mittels 3D-MID-Gehäusen aus wärmeleitenden Kunststoffen
S. Amesöder, RF Plast GmbH, Gunzenhausen;
F. Dommel, Dommel GmbH, Wassertrüdingen;
J. Frank, Frank Präzision GmbH, Obermässing

Weichmagnetische gefüllte Kunststoffe für integrierte leistungselektronische Bauelemente
M. März, Fraunhofer-Institut für Integrierte Systeme und Bauelementetechnologie;
L. Frey, H. Ryssel, Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg

Multisensorielle Prüfung zur ganzheitlich  dimensionellen Beurteilung eingebetteter elektronischer Baugruppen
A. Weckenmann, R. Lerch, Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg

Integrierbare Bauelemente zur Erhöhung der Betriebssicherheit elektronischer Systemkomponenten im Automobil
L. Frey, H. Ryssel, Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg

 

Session 4 - Car 2 X
Session Chair: R. Brück, Universität Siegen
 
15:25 Systematische Anforderungsanalyse für Car-2-X-Systeme
R. Scherping, T. Bertram, TU Dortmund;
U. Stählin, Continental AG, Frankfurt

15:50 Cooperative C2X Applications in Intersection Area on Example of the SAFESPOT Project
H. Pu, A. Lotz, A. Belhoula, Continental Automotive GmbH, Wetzlar;
T. Schendzielorz, Technische Universität München;
P. Mathias, MAT.TRAFFIC GmbH, Aachen

 

Session 5 - Paneldiskussion
Session Chair: H. Adlkofer, Infineon Technologies AG, Neubiberg

16:15 ASIL (ISO 26262): Was bedeutet dies für die Partner in der Automotive Value Chain?
Robert Bosch  GmbH;
BMW AG;
TÜV Süd ;

17:15 Bustransfer

18:00 Ankunft Bergwerksmuseum

20:00 Abendessen

23:00 Transfer nach Dortmund

 

 

 

Freitag, 16. April 2010

08:00  Registrierung

 

Session 6 – Qualität und System
Session Chair: M. Lang, Robert Bosch GmbH, Reutlingen

08:30 Eingeladener Vortrag:
Elektronik im Automobil zwischen Innovation und Wartbarkeit

S. Goß, Volkswagen AG, Wolfsburg

09:10  Erfüllung der Qualitätsanforderungen der automobilen Zulieferkette durch MES und Data Mining
P. Czerner, R. Montino, Elmos Central IT
Services GmbH & Co. KG, Dortmund

09:35 Distributed Component Systems Modelling with Parallel Composition
G. Uygur, S. Sattler, Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg

10 :00 Gesamtsystemmodellierung zum hetero-genen Systementwurf auf TIER-1 Ebene
T. Arndt, K. Einwich, Fraunhofer IIS/EAS, Dresden;
S. Schmidt, I. Neumann, Continental Teves, Frankfurt

 

Kaffee & Postersession 2
Session Chair: P. Scheer, BMW Group AG, München

10:25 Beginn Postersession 2

3D Printed Electronics with the Aerosol Jet process
M. Hedges, Neotech Services MTP, Nürnberg

Implementierung von mechanisch kommutierten und elektronisch angesteuerten Permanentmagnetmotoren im automobilen Umfeld
A. Möckel, T. Heidrich, Technische Universität Ilmenau

Standardisierung des Serial Peripheral Interfaces von System Basis Chips
C. Boiger, P. Scheer, BMW Group, München;
A. Grzemba, Hochschule Deggendorf

Standardisierte Kommunikation zwischen Zusatzgeräten in Spezialfahrzeugen
O. Fischer, CAN in Automation, Nürnberg

Automatisierungsmöglichkeiten der EMV Optimierung in der Netzwerksimulation
A. Leibinger, Robert Bosch GmbH, Reutlingen

Neuartiges Fahrerassistenzsystem zur Erkennung von akustischen Signalen im Straßenverkehr
M. Mielke,  A. Schäfer, M. Wahl, R. Brück, Universität Siegen

Nanoelectronics for Safe, Fuel Efficient and Environment Friendly Automotive Solutions
P. Grabiec, P. Janus, J. Szynka, Institute of Electron Technology, Warsaw, Poland;
K. Urban´ ski, A. Wymysl-owski, Wroclaw University of Technology, Poland;
O. op den Camp, TNO Automotive, Helmond, The Netherlands;
G. Battistig, Research Institute For Technical and Material Sciences, MFA, Budapest, Hungary;
T. van der Weelden, Boschman Technologies B.V., Duiven, The Netherlands;
J. Casselgren, Volvo Technology Corporation, Gothenburg, Sweden;
R. Schravendeel, H. Thewissen, NXP Semiconductors, Nijmegen, The Netherlands

Verbesserte Pull- und Schertests durch automatisierte Verfahren
S. Seidl, J. Sedlmair, F&K Delvotec Semiconductor GmbH, Braunau, Österreich

 

Session 7 - Fahrerassistenz, Mikrosysteme
Session Chair: K. Belhoula, Continental Automotive GmbH, Wetzlar

11:35  Set-up of Driver Assistance Systems and Integral Safety with a PMD 3D Camera
M. Paintner, V. Frey, C. Prestele, R. Wilks, ifm electronic gmbh, Essen

12:00 Impedimetrische Mikrosensoren als Teststruktur für Design und Technologie-entwicklung von PCBs
A. Steinke, B. March, J. Daleiden, H. Hintz, CiS Forschungsinstitut für Mirkosensorik und Photovoltaik GmbH, Erfurt

12:25 Mittagspause

 

Session 8  - SFB Integration elektronischer Komponenten in mobile Systeme
Session Chair : M. Engel, TU Dortmund

13:15 Sonderforschungsbereich 694 "Integration elektronischer Komponten in mobile Systeme" - Motivation und Überblick
A. Weckenmann, Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg

13:25 Thermisches Management mechatronischer Systeme mit wärmeleitenden Kunststoffen
D. Drummer, W. Ehrenstein, Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg

13:50 Virtuelles Qualitätsmanagement - Simulationsbasierte Prozessvalidierung für die  Elekronikproduktion
A. Weckenmann, M. Bookjans, J. Franke, Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg

14:15 Integration radarbasierter Fahrersassistenz-systeme in Kundststoffkarosserieteile
L.-P. Schmidt, D. Drummer, Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg

 

Session 9: Podiumsdiskussion
Session Chair : S. Sattler, Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg

14:40 Ersatzteilversorgung über die Lebenszeit des Fahrzeugs
H. Rauch, iSYST Intelligente Systeme GmbH, Nürnberg;
P. Scheer, BMW Group AG, München;
A. Weckenmann, Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg; 
S. Goß, Volkswagen AG, Wolfsburg

15 :40 Abschlussdiskussion & Feedback

16 :00  Ende der Veranstaltung

 

 
 
Impressum | © 2010 VDE Verband der Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik e.V.