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Skip Navigation LinksZuE 2009 Tutorials

Zuverlässigkeit und Entwurf 2009 

Tutorials 

Tutorial A

Silicon Validation, Debug and Diagnosis
R. Aitken, ARM Ltd., Sunnyvale, CA, USA

Increasing design complexity along with the emergence of new failure mechanisms in the nanometer regime has significantly increased the complexity of verification, validation and manufacturing ramp of ICs. From the time a new chip comes back from the fab until highvolume production can start, the chip goes through functional silicon validation and debug to make sure it is free of design errors, and defect diagnosis and failure analysis to solve yield problems. This tutorial covers the state of the art in silicon validation and debug and defect diagnosis ranging from the basic concepts to advanced applications and new DFD techniques.

 

Tutorial B

Formale Verifikation und Robustheit
R. Drechsler, G. Fey, Universität Bremen

Die funktionale Korrektheit integrierter Schaltkreise zu prüfen ist eine der wichtigsten Aufgaben beim Entwurf. Zusätzlich werden Fehlertoleranz und Robustheit vor dem Hintergrund abnehmender Strukturgrößen zunehmend wichtig. Eine vollständige Analyse aller Szenarien und aller möglichen Fehler wird mit formalen Methoden
erreicht. Im Tutorial werden hierzu die Grundlagen vorgestellt. Es werden sowohl die verwendeten Modelle als auch die darauf arbeitenden Algorithmen eingeführt. Anwendungsbeispiele werden diskutiert. Aufbauend darauf wird gezeigt, wie Fehlertoleranz und Robustheit integrierter Schaltkreise mit Hilfe formaler Methoden
analysierbar und messbar werden.

 Kooperationspartner

Gesellschaft für Informatik e.V.
edacentrum e. V.
Universität Stuttgart
 
 
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