Standards und Sicherheitsstrategien im Automobilsektor
W. Wolz, DTC Design & Test Consulting, Neunkirchen
Ergänzend zu Fortschritten bei passiver Sicherheit im Automobilbau werden in Zukunft autonome Steuerungssysteme zur Steigerung der aktiven Sicherheit großen Raum einnehmen. Sicherheitsorientierte Systeme werden durch Brems- und Lenkeingriffe Gefahrensituationen frühzeitig entschärfen. Für die Entwicklung von Steuergeräten sind damit solche Standards, Normen und Richtlinien erforderlich, die eine vom Zulieferer unabhängige Bewertung des erzielten Sicherheitsgrades derart sicherheitskritischer Systeme ermöglichen. Im Rahmen des Beitrags werden die benötigten Standards und Normen für eine qualitätsgesicherte Entwicklung automobiler Systeme skizziert und derzeit eingesetzten Qualifizierungsverfahren gegenübergestellt.
Wafer Level Reliability Screens and Adaptive Test
P. Maxwell, Aptina Imaging, San José, CA, USA
This presentation discusses test methods and voltage stress approaches required to ensure cost effective defect screening to produce high quality, reliable products. With process variation having ever increasing significance, and design cannot completely compensate, test methods must deal with the variation. Adaptive test is being increasingly adopted to ensure high quality and reliability at a cost that cannot be achieved with traditional static testing. Statistical based outlier screening methods will be discussed in the context of adaptive test, together with the use of voltage stress. Additional benefits of adaptive test will be discussed, such as improved yield learning and test floor efficiency.
Zuverlässigkeit beim Entwurf softwarebasierter sicherheitsrelevanter Systeme
S. Kriebel, G. Strobl, BMW AG, München
Softwarebasierte sicherheitsrelevante Systeme im Auto-mobil gewinnen weiterhin rasch zunehmend an Bedeu-tung. Zum einen liegt dies an der stetig zunehmenden Komplexität von Funktionen, zum anderen an deren ebenfalls stark zunehmenden Vernetzung. Die Beherrschung der Vernetzung komplexer Funktionen durch den OEM ist bekanntermaßen die Voraussetzung für eine agile Entwicklung stabiler sicherheitsrelevanter Systeme. Die geforderte Zuverlässigkeit dieser meist softwarebasierten Systeme muss aus Gründen der Wirtschaftlichkeit in der Wertschöpfungskette Entwicklung-Produktion-Service bereits in einem frühzeitigen kooperativen Entwurf von Funktion, Software und Hardware berücksichtigt werden. Hieraus lässt sich die große Bedeutung der Entkoppelung von Software- und Hardware für den OEM ableiten. Für einen OEM basiert die Beherrschbarkeit somit nicht nur auf einer vollständigen Funktionsarchitektur, sondern für eine wiederverwendbare und dadurch kosteneffiziente Software-entwicklung auch auf einer vollständigen (statischen und dynamischen) Softwarearchitektur, so wie der bereits etablierten Bordnetzarchitektur. Um dies industriell sinnvoll zu gestalten, muss die zugrundeliegende Softwarearchitektur die Trennung von funktionsnaher Applikationssoftware und hardwarenaher Basissoftware anhand einer industriell standardisierten Schnittstelle gewährleisten. Nur auf diese Weise kann verteilt entwickelte Software auf verteilt ent-wickelte Steuergeräte sicher und wirtschaftlich eingebracht werden. Die kosteneffiziente Erfüllung der Anforderungen an die Zuverlässigkeit von softwarebasierten sicherheitsrelevanten Systemen erfordert in diesem Kontext eine kooperative Entkoppelung des Entwurfs von funktionsnaher Applikationssoftware, hardwarenaher Basis-software und der Hardware selbst, auf die in der Präsentation eingegangen wird.
Innovative Testlösungen für Automotive Halbleiter
H. Kuhn, Infineon Technologies AG, Regensburg
Gestiegene Anforderungen an heutige Produkte als auch erweiterte Qualitätsansprüche bei erhöhtem Kostendruck erfordern neue Teststrategien und Testlösungen in der Halbleiterindustrie. Der zusätzliche Bedarf aus den Bereichen Burn-In und Verwurfsmethoden (Screening) nimmt hier eine neue Vorreiterrolle bei der Realisierung von innovativen Lösungen ein. Insbesondere vor dem Hintergrund einer ausgewiesenen "Automotiv-" Qualität wird die reproduzierbare und zuverlässige Handhabung von eingebauten Testfähigkeiten (Built in Test Equipment - BITE) zum entscheidenden Kostenhebel und Differenzierungsmerkmal neuer konkurrenzfähiger Halbleiterprodukte. Integrierte Lösungen mit erweiterten Funktionen des Selbsttests (Built-In Self-Test - BIST) und der intelligenten Verteilung von Testressourcen (Test Ressource Partitioning) entlang der Produktqualifizierung spielen zunehmend eine gewichtige Rolle. Es werden neuste Lösungen und erste Prototypen vorgestellt, und deren künftige Anwendungsbereiche aufgezeigt. Aufbauend darauf wird diskutiert, welche Randbedingungen und Innovationen dazu noch nötig sind.
Process and Environment-Adaptive "Self-Aware" Communications Systems
A. Chatterjee, School of Electrical and Computer Engineering, Georgia Institute of Technology, Atlanta, GA, USA
CMOS technology scaling along with the resulting large variability of circuit performance has made post-silicon circuit and algorithmic level built-in test and adaptation/ tuning almost a necesity for deeply scaled technologies. Currently, circuits are designed to tolerate worstcase process corners. In addition, circuits as well as demodulation/signal processing algorithms must be designed for worst case operating conditions (e.g.environmental noise). This forces designers to excessively guard band their circuits while using "aggressive" back-end algorithms to support the end application, resulting in unacceptable power-performance-yield tradeoffs. One way to tackle this problem is to design circuits and relevant signal processing lgorithms that are self-aware and can adapt to environmental operating conditions and process variations to conserve power while maximizing yield and reliability. Such self-awareness involves incorporation of built-in test, diagnosis and tuning/adaptation mechanisms into the circuits and systems concerned. A key issue is that of test, diagnosis and tuning of complex circuit and system-level parameters that must be evaluated and traded off against one another during the adaptation process without access to complex external test instrumentation. This talk summarizes recent results obtained in the design of self-aware wireless communications systems and points to directions for future work in this area.
Importance of Design Quality within a Challenging Automotive Innovation Environment
T. Hötzel, Atmel Automotive GmbH, Heilbronn