Deadline: 15. Mai 2009
Download Call for Papers ZuE 2009
Es wird gebeten, die Möglichkeit zur elektronischen Einreichung zu nutzen.
Themenbereiche
Entwurfsmethodik
Synthesis for Reliability and Yield
Eingebettete Systeme
Verfügbarkeitsgarantien bei Degradation
Mikroelektronik in der Automobiltechnik
Konzeption von Architekturen unter Zuverlässigkeitsaspekten
Analoge Schaltungen
Störsicherheit
Verifikation digitaler Systeme
Beschreibungssprachen und Modellierung
Testmethoden und Diagnose
Test, Diagnose und Fehlertoleranz
Layoutentwurf
Fertigungsnahe Verifikation
Es wird ein Best Paper Award vergeben.
Es sind Teilbeiträge von ca. 20 Minuten Dauer mit anschließender Diskussion sowie Poster vorgesehen. Die angenommenen Beiträge werden in einem zitierfähigen Tagungsband mit CD-ROM zusammengefasst. Die Fachtagung ist auf Deutsch, es sind jedoch Beiträge und Vorträge auf Englisch willkommen. Die Beiträge sollten bis zu 8 Seiten umfassen.