Das Programm zur ZuE 2012 haben wir hier als download für Sie zur Verfügung gestellt.
| Institut für Raumfahrtsysteme, DLR, Bremen |
13:00 -
14:00 |
Registrierung |
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13:00 -
17:00 |
Tutorials |
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Demystifying Board-Level Test and Diagnosis: Towards Dependable Electronic Systems |
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Bewertung und Optimierung der Robustheit mikroelektronischer Systeme |
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F. Salfelder, Goethe Universität Frankfurt, M. Olbrich, M. Kärgel, Leibniz Universität Hannover, M. Barke, Technische Universität München, D. Helms, OFFIS - Institut für Informatik, Oldenburg, O. Bringmann, Eberhard-Karls Universität Tübingen |
17:00 -
18:00 |
Führung im DLR School Lab und den Laboren des DLR Instituts für Raumfahrtsysteme |
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18:00 |
Empfang |
| Haus der Wissenschaft , Bremen |
| 09:00 |
Begrüßung |
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09:15 |
Eingeladener Vortrag |
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Sitzungsleitung: A. Herkersdorf, TU München |
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Collaborative Engineering: Lösungen und Herausforderungen in der Entwicklung von Raumfahrtsystemen |
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A. Gerndt, Deutsches Zentrum für Luft- und Raumfahrt (DLR) Braunschweig |
10:15 -
10:30 |
Kaffeepause |
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Sitzungsleitung: H. T. Vierhaus, Brandenburgische Technische Universität Cottbus |
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Reliability Enhancement of Fault-prone Many-core Systems Combining Spatial and Temporal Redundancy |
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A. Runge, Universität Würzburg |
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HLDSC+ - Eine Umgebung zum effizientenHigh-Level-Debugging von SystemC/TLM-Modellen |
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E. Fehlauer, S. Rülke, Fraunhofer IIS, Dresden |
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NEEDS – Nanotechnik-Entwurf für 3D-Systeme |
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K. Hylla, M. Metzdorf, OFFIS, Oldenburg;
A. Gründewald, K. Hahn, Universität Siegen;
A. Heinig, U. Knöchel, Fraunhofer IIS, Dresden;
T. Wild, F. Miller, Technische Universität
München; A. Quiring, M. Olbrich, Leibniz
Universität Hannover |
12:00 -
13:00 |
Mittagessen: Friesenhof |
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13:30 |
Eingeladener Vortrag |
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Sitzungsleitung: A.-P. Fonseca-Müller, Robert Bosch GmbH, Reutlingen |
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Digital Microfluidic Biochips and Cyberphysical Integration: A Vision for Functional Diversity and More than Moore |
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K. Chakrabarty, Duke University, Durham, NC, USA |
14:30 -
15:30 |
Podiumsdiskussion |
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Failures in the Field: Design, Verification, or Test Problem? |
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Organisator: M. Tahoori, Karlsruher Institut für Technologie |
15:30-
15:45 |
Kurzvorstellung der Poster |
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Sitzungsleitung: K. Hahn, Universität Siegen |
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Accurate Computation of Longest Sensitizable
Paths using Answer Set Programming |
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B. Andres, M. Gebser, T. Schaub, Universität Potsdam; M. Sauer, T. Schubert, B. Becker,
Albert-Ludwigs-Universität Freiburg |
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Der Bond-Rechner – ein Werkzeug zur Dimensionierung von Bonddrähten |
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A. Gerlach, D. Marolt, J. Scheible, Robert Bosch Zentrum für Leistungselektronik und Hochschule Reutlingen |
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Ein hochverlässliches, selbst-adaptives, Mixed-Signal Mehrkern-SoC |
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J. von Rosen, B. Betting, U. Brinkschulte, L. Hedrich, Istitute for Computer Science, Goethe Universität Frankfurt am Main |
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DNL-Method to reduction of the test time and its safety risk |
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M. Rantisi, S. Sattler, Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg |
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Eine strahlungsresistente 0.13 Mikrometer CMOS Bibliothek |
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U. Jagdhold, IHP, Frankfurt (Oder) |
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Sitzungsleitung: M. Redeker, Intel Mobile, Braunschweig |
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Automatische Dimensionierung von Analogschaltungen unter Berücksichtigung von Schaltungssymetrien |
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M. Eick, H. Gräb, Technische Universität München |
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Robuste Power-On-Reset Schaltung mit Kalibrierung im Fertigungstest |
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G. Hilber, D. Gruber, M. Sams, T. Ostermann, Johannes Kepler Universität Linz |
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Verifikation des Power-Down-Modus von analogen Schaltungen |
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M. Zwerger, H. Gräb, Technische Universität München |
| 19:00 |
Abendveranstaltung in der Kaffee Mühle |
| Haus der Wissenschaft, Bremen |
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09:00 |
Eingeladener Vortrag |
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Sitzungsleitung: M. Dietrich, Fraunhofer IIS EAS, Dresden |
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ATV Avionics System testing |
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J. Hartmann, Astrium Space Transportation, Bremen |
10:00 -
10:15 |
Best Paper Award 2011 |
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Moderator: J. Schöffel, Mentor Graphics Deutschland GmbH, Hamburg |
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Verleihung des GMM-Preises an
Michael Eick, Martin Strasser und Kun Lu |
10:15 -
10:30 |
Kaffeepause |
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Sitzungsleitung: M. Tahoori, Karlsruher Institut für Technologie KIT |
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Formal Safety Verification of Automotive MC Components |
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H. Busch, Infineon Technologies, Neubiberg |
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Logic Self Repair Architecture with Self Test Capabilities |
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T. Koal, M. Ulbricht, H.T. Vierhaus, Brandenburgische Technische Universität Cottbus
P. Engelke, Infineon Technologies AG, Neubiberg |
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Hardware-Software-Co-Synthese zur Verbesserung der Fehlertoleranz |
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S. Frehse, H. Riener, Universität Bremen
G. Fey, DLR und Universität Bremen |
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12:00 -
13:00 |
Embedded Tutorial |
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Sitzungsleitung: R. Kraemer, IHP Microelectronics GmbH, Frankfurt (Oder) |
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Mixed-Signal-Test |
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A.P. Fonseca-Müller, Robert Bosch GmbH, Reutlingen |
| 13:00 |
Schlusswort |
| 13:15 |
Mittagessen |
| 14:15 |
Stadtführung |