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Montag, 13. September 2010
13:00-14:00 Registrierung
14:00-17:00 Tutorial A
Moderation: C. Grimm, Technische Universität Wien, Österreich
Heterogene Integration - Anforderungen an Modellierung und Lösungsansätze
P. Schneider, U. Knöchel, FhG-IIS/EAS, Dresden
14:00-17:00 Tutorial B
Moderation: A.-P. Fonseca-Müller, Robert Bosch GmbH, Reutlingen
Getting the Best out of Current Testing
H. Manhaeve, Q-Star Test, Brügge, Belgien
17:00-19:30 Naturerlebnis in der Wolfsschlucht
ab 19:30 Get Together
Dienstag, 14. September 2010
08:00-08:30 Registrierung
08:30-10:15 Eröffnung und Eingeladene Vorträge
Moderation: U. Schlichtmann, Technische Universität München
Wafer Level Reliability Screens and Adaptive Test
P. Maxwell, Aptina Imaging, San José, CA, USA
Best Paper Award ZuE 2009
Präsentation: S. Sattler, Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg; R. Schnabel, VDE/VDI-GMM, Frankfurt/Main
Standards und Sicherheitsstrategien im Automobilsektor
W. Wolz, DTC Design & Test Consulting, Neunkirchen
10:15-10:45 Kaffeepause
10:45-12:15 Sitzung 1: Robustheit
Moderation: W. Hoppe, Rheinmetall Technical Publications GmbH, Bremen; E. Hennig, IMMS gGmbH, Ilmenau
Robustheit nanoelektronischer Schaltungen und Systeme
M. Radetzki, Universität Stuttgart, O. Bringmann, Forschungszentrum Informatik an der Universität Karlsruhe FZI; W. Nebel, OFFIS e.V., Oldenburg; M. Olbrich, Leibniz Universität Hannover; F. Salfelder, Universität Frankfurt/Main; U. Schlichtmann, Technische Universität München
Robuster Selbsttest mit extremer Kompaktierung
T. Indlekofer, M. Schnittger, S. Hellebrand, Universität Paderborn
Effiziente Simulation von strukturellen Fehlern für die Zuverlässigkeitsanalyse auf Systemebene
M. Kochte, C. Zöllin, R. Baranowski, M. E. Imhof, H.-J. Wunderlich, Universität Stuttgart; N. Hatami, S. Di Carlo, P. Prinetto, Politecnico di Torino, Italien
12:15-13:30 Mittagspause
13:30-14:30 Sitzung 2: Alterung
Moderation: R. Kohl, Continental AG, Nürnberg; M. Olbrich, Universität Hannover
A New Physics-Based NBTI Model for DC-and AC-Stress Enabling Accurate Circuit Aging Simulations Considering Recovery
C. Schlünder, H. Reisinger, W. Gustin, Infineon Technologies AG, Neubiberg; T. Grasser, Technische Universität Wien
Timing-Modell für Makrozellen zur Alterungsanalyse
D. Lorenz, M. Barke, U. Schlichtmann,
Technische Universität München
14:30-15:30 Kaffeepause / Postersitzung: Test
Moderation: H. T. Vierhaus, Brandenburgische Technische Universität Cottbus
Analysis on Effectivness of SRAM Test Algorithms and Test Statistics on Industrial Data
M. Linder, A. Eder, Hochschule Augsburg; K. Oberländer, G. Resch, M. Huch, Infineon Technologies AG, Neubiberg
A Holistic Approach of an Architecture for Tests of FPGA Based Systems with Boundary Scan
J. Sachße, S. Ostendorff, H.-D. Wuttke, J. H. Meza Escobar, Technische Universität Ilmenau
An OpAmp Array Test Structure for Stress Test Measurements
B. John, K. M. Hafkemeyer, W. H. Krautschneider, Technische Universität Hamburg-Harburg
IR-Thermographie zur Qualitätssicherung von elektrischen Durchkontaktierungen in Leiterplatten
M. Abo Ras (1,2), D. May (2,4), R. Schacht (2,3), B. Wunderle (2,4), B. Michel (2)
1: Berliner Nanotest und Design GmbH, Berlin,
2: Fraunhofer IZM, Berlin
3: Hochschule Lausitz (FH), Senftenberg,
4: Technische Universität Chemnitz
15:30-16:15 Eingeladener Vortrag
Moderation: H. Randoll, Robert Bosch GmbH, Stuttgart
Zuverlässigkeit beim Entwurf softwarebasierter sicherheitsrelevanter Systeme
S. Kriebel, G. Strobl, BMW AG, München
16:15-17:15 Sitzung 3: Test und Selbstreparatur
Moderation: J. Bäsig, Fachhochschule Nürnberg; W. Wolz, DTC Design & Test Consulting, Neunkirchen
Schwachstellen und Engpässe bei Verfahren der Selbstreparatur für hochintegrierrte Schaltungen und Systeme
T. Koal, D. Scheit, H. T. Vierhaus, Brandenburgische Technische Universität Cottbus
Testmethodik zur Untersuchung von geringen Leckström D. Kirsten, A. Rolapp, D. Nuernbergk, IMMS gGmbH, Ilmenau
19:00-23:00 Abendveranstaltung im Festsaal
Mittwoch, 15. September 2010
08:30-10:00 Eingeladene Vorträge
Moderation: M. Ackermann, X-FAB Semiconductor Foundries AG, Erfurt; W. Vermeiren, FhG-IIS/EAS, Dresden
Innovative Testlösungen für Automotive Halbleiter
H. Kuhn, Infineon Technologies AG, Regensburg
Importance of Design Quality within a Challenging Automotive Innovation Environment
T. Hötzel, Atmel Automotive GmbH, Heilbronn
10:00-11:00 Kaffeepause und Postersitzung
Moderation: A. Czutro, Albert-Ludwigs-Universität Freiburg
Totally Self-Checking Ripple-Carry-Adders
N. Kehl, Robert Bosch GmbH, Stuttgart; W. Rosenstiel, Universität Tübingen
Kompositionelle Formale Robustheitsprüfung
S. Frehse, G. Fey, Universität Bremen
Orbital-X: Fehlertoleranter Rechner für Raumfahrtanwendungen
J. Ortner, J. Frickel, S. M. Sattler, W. Glauert, Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürn-berg; B. Kandler, R. Göbel, Hochschule Hof; P. Hager, U. Walter, Technische Universität München; H.-R. Graf, Diehl BGT Defence GmbH & Co. KG, Röthenbach
Auswirkung von Parameterschwankungen bei verschiedenen Fertigungsverfahren von Kupfer-Leitungsstrukturen
A. Heinig, FhG-IIS/EAS, Dresden
Parameterextraktion VRH-basierter Modelle für organische Feldeffekttransistoren
W. Schirmer, W. Glauert, Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg; R. Blache,J. Krumm, K. Schmidt, Poly IC GmbH & Co. KG, Röthenbach
11:00-12:00 Sitzung 4: Ausbeute und Fehlertoleranz
Moderation: G. Georgakos, Infineon Technologies AG, Neubiberg; C. Gräb, Technische Universität München
Ausbeute und Fehlertoleranz bei dreifach modularer Redundanz
M. Hunger, S. Hellebrand, Universität Paderborn
Eine neue Fehlertoleranzmethode zur Verringerung des Flächenaufwandes von TMR-Systemen
M. Augustin, Brandenburgische Technische Universität Cottbus; M. Gössel, Universität Potsdam; R. Kraemer, IHP GmbH, Frankfurt/ Oder
12:00-13:30 Mittagspause
13:30-14:15 Eingeladener Vortrag
Moderation: W. Kunz, Universität Kaiserslautern
Process and Environmental-Adaptive „Self-Aware“ Communications Systems
A. Chatterjee, School of Electrical and Computer Engineering, Georgia Institute of Technology, Atlanta, GA, USA
14:15-15:15 Sitzung 5: Prozessoren
Moderation: D. Fey, Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg; H. Rauch, iSyst Intelligente Systeme GmbH, Nürnberg
Complete Verification of Weakly Programmable IPs against their Operational ISA Model
S. Loitz, M. Wedler, D. Stoffel, C. Brehm, W. Kunz, N. Wehn, Universität Kaiserslautern
Online Transient Error Detection and Recovery in Re-order Buffers of Superscalar Processors
S. Z. Shazli, M. Tahoori, Karlsruher Institut für Technologie KIT
15:15-15:30 Schlusswort